RHK Technology

▪ UHV VT AFM/STM  (Abb.A)

Vakuum STM oder AFM/STM, Raumtemperatur oder Temperaturvariation,

UHV-Systeme inklusive Probenpräparation und weiteren Analysemethoden,

Optionen für variables Magnetfeld und für optischen Zugang

▪ UHV AFM/STM/ REM (Abb.B und Abb.C)

Navigation der SPM-Spitze unter Beobachtung mit einem Raster-Elektronenmikroskop

▪ UHV LT QuadraProbe™ (Abb.D und Abb.E)

Bis zu 4 unabhängige Messspitzen mit atomarer Auflösung, Probe und Spitze kühlbar auf 10K, REM zur Navigation der Messspitzen

▪ Pan-Style LT STM / TF-AFM-Kit (Abb.F)

Scankopf für Tieftemperatureinsatz bis 300 mK, STM oder optional Stimmgabel-AFM, integrierter x/y-Offset

▪ ATM 300/350 (Abb.G)

STM oder AFM/STM zum Einsatz an Luft, für kleine Scanweiten und höchste Auflösung, vorbereitet für Upgrade auf UHV

▪ Universelle SPM-Steuersysteme (Abb.H und I) 

Elektronik und Software für SPM-Scanköpfe unterschiedlicher Hersteller oder aus Eigenbau; neuestes Modell R9 bietet IHDL™ mit „drag and drop“- Zusammenstellung der gewünschten Hardware-Konfiguration.

▪ PLLPro-Steuerung für NC-AFM (Abb.J)

Vollständig digitale Elektronik und Software zur Unterstützung aller AFM-Modi;

Neueste Version PLLPro 2 ™ schließt Kelvin Probe Microscopy ein.

▪ Aufrüstung bestehender Systeme

Das modulare Konzept erlaubt einfache und kostengünstige Erweiterung der RHK-Systeme:

Von STM auf AFM/STM, von RT auf VT, von externer auf interne Schwingungsdämpfung, von manuellem PPC100 auf digitalen PPC200, von älterer Steuersystem-Hardware und Software auf SPM 1000 rev. 8.5 mit XPMPro 2.0

Anwendung

UHV STM und AFM bei Raumtemperatur oder variabler Temperatur bis 10K (Probe und Spitze) bzw. bis 1500K. Variables Magnetfeld. Optischer Zugang.