DeEnFr ProdukteNewsSchaefer GroupAusstellungenStellenangeboteKontakt

Park Systems AFM

Park Systems NX10
Park Systems NX20
AFM Bild, Atomare Stufen
AFM Bild, Zelle
Vergleich Park AFM - SEM

Finden Sie interessante Publikationen im neuen NANOscientific magazine: www.nano-scientific.org

 

Lesen Sie hier ein Interview mit Dr. Sang-Joon Cho (Chief Scientist at Park Systems) über die neuen SmartScan Eigenschaften in Azonano. 

 

Sehen sie hier einen Film (3 Minuten) über die Park AFM Technologie:

 

 

 

Neu: Park NX-Bio

 

Physiologische Phänomene lebender Zellen im Nanomassstab erforschen. Park NX-Bio bietet dies mit der innovativen "Scanning Ion Conductance Microscopy" (SICM) und der hochstehenden Atomic Force Microscopy (AFM) Technologie.

 

 

  

 

Park NX20 das weltweit genauste AFM für grosse Proben

 

Sehen Sie das Video zum neuen NX20.

 

  

  

 

Bewährt für kleine Proben: Park Systems NX10 

 http://parkafm.com/nx/

 

Die Vorzüge des Park NX10 AFM werden hier in einem 5 Min. Video präsentiert (englisch).

 

 

Fast-Scan (z.B. 20 Hz) kann mit jedem Park NX standardmässig gemacht werden. Sehen Sie dazu hier einen 2 minütigen Film.

 

 

Neuer Conductive Modus: "PinPoint Conductive AFM is designed to integrate with Park Systems NX20 Atomic Force Microscope and other Park AFM Products. PinPoint Conductive technology has succeeded in solving all of the shortcomings of conventional conductivity AFM such as quick tip wear, degradation of resolution, low signal to noise ratio, no tip pressure control, and poor reproducibility of data"

 

 

Neuer High Speed SCM Modus: Park Systems Introduces QuickStep SCM New High Speed Scanning Capacitance Microscopy

 

 

 

The World's Most Accurate AFM 

 

Ermöglicht durch die sehr lange Erfahrung im Bau von Rastersondenmikroskopen, hat Park  in der neuesten Gerätegeneration die bewährte einfache Handhabung der Systeme mit einer Reihe technischer Besonderheiten kombiniert, die bei anderen Geräten kaum zu finden sind. Dazu zählt in erster Linie die Entkoppelung von X,Y und Z-Scanner. Durch diese Trennung ergeben sich zahlreiche Vorteile, so z.B. die Realisierung des echten nicht-berührenden, „True Non Contact“-Scanmodus, der besonders Spitzen- und Probenschonend ist. Der eingesetzte X,Y Flexurescanner arbeitet äußerst präzise und ist mit einer out-of plane Bewegung von wenigen nm über den gesamten Scanbereich von 100micron spezifiziert. Damit werden, anders als bei Verwendung von Röhrchenscannern, ebene Oberfläche auch ohne zusätzliche Softwarekorrekturen eben abgebildet.

 

Selbstverständlich sind alle Geräte standardmäßig hardware-linearisiert (für kleine Scanbereiche wahlweise auch abschaltbar) und mit einer hochauflösenden Videooptik ausgestattet.
Sämtliche Geräte der XE-Serie basieren auf der gleichen Technik und unterscheiden sich hauptsächlich durch die maximale Probengröße bzw. den möglichen Automatisierungsgrad.


Die Park AFM-Serie umfasst dabei neben den herkömmlichen Forschungssystemen auch Geräte für Spezielanwendungen, wie z.B. das XE-Bio, ein spezielles Bio-AFM mit dem weltweit einzigartigen SICM-Modus, der die völlig berührungslose und damit schonende Messung von Zellen in ihrer natürlichen Umgebung ermöglicht. Auch die Koppelung mit anderen Messtechniken, beispielsweise die Ankoppelung an ein Ramanspektrometer ist problemlos möglich.
Neben diesen in erster Linie für den Forschungsbereich konzipierten Geräten bietet Park auch eine vollständige Produktlinie für den Einsatz in der Industrie.

 

  

Ausschlaggebend für den Erfolg der Park AFM sind die technischen Vorteile:

 

- Neue AFM Plattform mit schnellem Z-Scanner, separiert vom XY-Scanner, Flexure Scanner statt Röhrchenpiezos, Closed Loop für XY und Z (einzeln umschaltbar auf Open Loop)

 

- Echter Non-Contact Modus - keine Veränderung der Probe und geringer Messspitzen-Verschleiss auch bei empfindlichen Messspitzen, dadurch bestmögliche AFM Auflösung

 

- Nanometrologie: < 1nm Z-Abweichung beim Scannen flacher Proben über einen Messbereich von 50 µm (ohne Softwarekorrktur); ausgezeichnete Linearität und Orthogonalität (Scans unter 0° und 90° deckungsgleich)

 

- Einfache Handhabung durch Top-View-Optik und die Möglichkeit, Spitzen von Hand zu wechseln, ohne den Messkopf auszubauen 

 

 

Park Systems, World-leading Manufacturer of Atomic Force Microscopes, Receives Frost & Sullivan 2016 Global Enabling Technology Leadership Award

 

 

 

Auszeichnung am Euro AFM Forum 2016 erhalten!

Das COMATEC-LANS (Laboratory of Applied NanoSciences) der HEIG-VD Universität in Yverdon (Herr Narcis Fosso, Prof. Dr. Silvia Schintke) haben für ihr AFM Bild und Poster einen Preis an der internationalen Konferenz in Genf gewonnen. Den vollständigen Artikel finden Sie hier.

 

 

Anwenderpräsentation zum Thema gedruckte Elektroden:

Titel: Atomic force microscopy and conductivity analysis of inkjet printed electrode structures

2nd Annual Inkjet conferece 2015, 7-8 October 2015, Düsseldorf, Germany

Prof. Dr. Silvia Schintke

https://www.youtube.com/watch?v=T7ODx4xsRbo

 

 

 

       Geräte

 

 

  • NX20
  • XE7 (preisgünstiges AFM für die Forschung)
  • XE15
  • XE-NSOM  (NSOM, Raman und anderen optische Verfahren) 
  • NX-BIO  (Messung an lebenden Zellen mittels ICM, auf invertiertem Mikroskop)  
  • NX-Hivac (Hochvakuum AFM für Halbleiter Fehleranalyse)

 

Anwendungen: 

 

- Rasterkraft Mikroskopie (AFM, DFM)

- Scanning Tunneling Mikroskopie (STM)

- Lateral Force Mikroskopie (LFM)

- True Non-Contact Modus (nc-AFM)

- Phasen Abbildung / Phasen Detektions Mikroskopie (PDM)

- Magnetic Force Mikroskopie (MFM)

- Scanning Thermal Mikroskopie (SThM)

- Scanning Kelvin Force Mikroskopie (SKFM)

- Kraft-Abstands Spektroskopie (F-d Spectroscopy)

- Kraftmodulations Mikroskopie (FMM)

- Leitfähigkeits AFM (I-AFM)

- Electrostatic Force Mikroskopie (EFM, DC-EFM)

- Scanning Kelvin Probe Mikroskopie (SKPM)

- Scanning Capacitance Mikroskopie (SCM)

- Scanning Spreading Resistance Mikroskopie (SSRM)

- Nanoindentation

- Nanolithografie

- Nanomanipulation

- Tip Enhanced Raman Spektroskopie (TERS)

- Elektrochemisches AFM

- Opische Nahfeld Mikroskopie (NSOM)

- Ionen Leitfähigkeits Mikroskopie (ICM, abbilden lebender Zellen) 

 

 

 

Park Systems Industrielle AFM's

Die automatisierten Park AFM's werden in der Halbleiterindustrie für diverse Anwendungen eingesetzt.

Geräte

- XE-HDM

- XE-PTR

- XE-3DM

- XE-CMP

- XE-WAFER

- XE-LCD

- NX-Hivac (Hochvakuum AFM für Halbleiter Fehleranalyse)

 

Kontakt
Schaefer Technologie GmbH
Robert-Bosch-Str. 31
63225 Langen, Deutschland
Telefon +49-6103-300 98 0
Telefax +49-6103-300 98 29
info@schaefer-tec.com
www.schaefer-tec.com

Weitere Informationen

Links
- Webseite Park Systems

- Park Video

Downloads

- AFM modes (Poster)

- Park Präsentations-Video
- NX10 Prospekt

- NX20 Prospekt

- XE15 Prospekt

- NX-Bio Prospekt

- Frost&Sullivan Award 2016

 

Mail an Schaefer