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RHK Technology

A: RHK UHV 7500 mit zusätzlichen Oberflächenanalyse-Möglichkeiten und Erfassung optischer Daten
B: UHV AFM/STM/REM
C: REM-Aufnahme der STM Spitze über einem Gold-Gitter
D: Manipulation von Nanotubes
E: Messspitze über einem Schaltkreis
F: Pan-Style LT STM
G: ATM 300/350
H: Universelles SPM-Steuersystem
I: R9
J: PLLPro-Steuerung für NC-AFM

RHK ist seit über 25 Jahren führender Hersteller von Oberflächenanalysegeräten wie:

  

- PanScan Cryogen-free LT-STM

- PanScan LT SPM kit

- UHV VT AFM/STM

- UHV LT QuadraProbe(TM)

- AFM/STM/SEM

- Nano-Optische/naop-Spektroskopie SPM

- Universelle SPM Steuerelektroniken

 

 

Sehen Sie hier das Webinar zur R9 Steuerelektronik.

 

 

Die folgende Liste beschreibt die Bilder rechts:

 

UHV VT AFM/STM  (Abb.A)

Vakuum STM oder AFM/STM, Raumtemperatur oder Temperaturvariation,

UHV-Systeme inklusive Probenpräparation und weiteren Analysemethoden,

Optionen für variables Magnetfeld und für optischen Zugang

 

 

UHV AFM/STM/ REM (Abb.B und Abb.C)

Navigation der SPM-Spitze unter Beobachtung mit einem Raster-Elektronenmikroskop

 

 

UHV LT QuadraProbe™ (Abb.D und Abb.E)

Bis zu 4 unabhängige Messspitzen mit atomarer Auflösung, Probe und Spitze kühlbar auf 10K, REM zur Navigation der Messspitzen

 

 

Pan-Style LT STM / TF-AFM-Kit (Abb.F)

Scankopf für Tieftemperatureinsatz bis 300 mK, STM oder optional Stimmgabel-AFM, integrierter x/y-Offset

 

Pan-Scan Freedom-LT System

Komplettsystem für STM oder AFM/STM im Temperaturbereich 15K-400K mit closed-cycle-Kühlung: keine Kühlmittel-Kosten und unterbrechungsfreie Messung; atomare Auflösung, geringe Drift, gute STS. Weitere Informationen siehe:
http://rhk-tech.com/products/scanning-probe-microscopes/panscanfreedomlt/

 

 

 

ATM 300/350 (Abb.G)

STM oder AFM/STM zum Einsatz an Luft, für kleine Scanweiten und höchste Auflösung, vorbereitet für Upgrade auf UHV

 

 

Universelle SPM-Steuersysteme (Abb.H und I) 

Elektronik und Software für SPM-Scanköpfe unterschiedlicher Hersteller oder aus Eigenbau; neuestes Modell R9 bietet IHDL™ mit „drag and drop“- Zusammenstellung der gewünschten Hardware-Konfiguration.

 

 

PLLPro-Steuerung für NC-AFM (Abb.J)

Vollständig digitale Elektronik und Software zur Unterstützung aller AFM-Modi;

Neueste Version PLLPro 2 ™ schließt Kelvin Probe Microscopy ein.

 

 

▪ Aufrüstung bestehender Systeme

Das modulare Konzept erlaubt einfache und kostengünstige Erweiterung der RHK-Systeme:

Von STM auf AFM/STM, von RT auf VT, von externer auf interne Schwingungsdämpfung, von manuellem PPC100 auf digitalen PPC200, von älterer Steuersystem-Hardware und Software auf R9.

 

 

 

Anwendung

 

UHV STM und AFM bei Raumtemperatur oder variabler Temperatur bis 10K (Probe und Spitze) bzw. bis 1500K. Variables Magnetfeld. Optischer Zugang.  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Kontakt
Schaefer Technologie GmbH
Robert-Bosch-Str. 31
63225 Langen, Deutschland
Telefon +49-6103-300 98 0
Telefax +49-6103-300 98 29
info@schaefer-tec.com
www.schaefer-tec.com

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