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Microscopie à sonde locale
Profilométrie optique 3D
Tomografie à rayons-X
Microscopie éléctronique à balayage
Spectrométrie LEED/AES
Production de nanofibres
Tribologie - Nanoindentation
XRF / Epaisseur de revêtements
Mesure de particules
Mesure - Magnétisme - Vide

NOUVEAU: Multi-Mode AFM avec OPEN DESIGN

TT-AFM avec mode contact, mode dynamique, mode de phase et force latérale. Logiciel LabView ouvert et caméra video integré pour un prix en dessous de 25'000.- Euro!

Microscopie à sonde locale 

- Park Systems
- RHK

- AFM Workshop (TT-AFM)

- AFM Cantilever
- MikroMasch

- nanoAnalytics QFM-Modul
- TableStable
- Accessoires
- SPIP 

Profilométrie optique 3D 

- Sensofar
- gbs
- PhaseView
- AEP
- Mountains Software

 

 

Tomografie à rayons-X 

- XRT

 

 

 

 

 

 

Microscopie éléctronique 

- Phenom
- MeX 

Spectrométrie LEED/AES 

- OCI

 

Production de nanofibres 

- ELMARCO

 

Tribologie - Nanoindentation 

- CETR 

 

XRF / Epaisseur de revêtements

- Roentgenanalytic épaisseur de couches

- Roentgenanalytic analyse des matériaux
- Sigma QCM

 

 

Mesure de particules

- NanoSight

- Ambivalue (micromètre - millimètre)

- Matter (aerosol)
- Californiameasurements (impacteur) 

 

Mesure - Magnétisme - Vide

- Hastings
- Group 3
- Sigma

- KERN Balances et Poids  

- GE-5 Digitalmicroscope

- Picowatt

- VACSEAL

- SAUTER technologie de mesure
Contact
Schaefer-Tec AG
Badimatte 21
Postfach 431
3422 Kirchberg, Schweiz
Telefon + 41 - 34 - 423 70 70
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