Analyse de composition avec la fluorescence à rayons X

Systèmes innovatrices pour l'analyse non destructive Micro-XRF de la composition de matériaux, mesure de l'épaisseur de couches et l'analyse RoHS/WEEE.

Les appareils de mesure sont produits par Roenalytic en Allemagne et combinent un spectre large d'éléments avec une haute résolution latérale (diamètre du rayon-X jusqu'à 20 micromètre) ainsi que des basses limites de détection. Une chambre à vide rend la mesure d'éléments légers possible ou est utilisée pour le mesure sous atmosphère contrôlée.  

Instruments:

NanoMaster

EAGLE III µ-Probe

Example d'application:

- Forensic Applications

Applications:

- Analyse de composition de matériaux

- Mesure d'épaisseur de revêtements

- Analyse par fluorescence X

- Analyse de bijoux

- Analyse de cirquits intégrés

- Police scientifique 

- Analyse de tableaux et oeuvres d'art (musés)

- RoHS

- WEEE