DeEnFr ProdukteNewsSchaefer GroupAusstellungenStellenangeboteKontakt

Mikromasch AFM Spitzen und Kalibrierproben

HQ:NSC Typ Cantilever, ein Balken
HI-RES Cantilever

Mikromasch stellt diverse AFM Spitzen und Kalibrierproben her. 

 

- HQ:NSC, HQ:CSC und HQ:XSC (Spitzenradius <10nm)

- HI'RES (Spitzenradius 1nm)

- DPE (Leitfähig, robust)

- DPER (Leitfähig, hohe Auflösung)

- Hard (sehr dauerhaft) 

- Diverse Beschichtungen sind erhältlich

 

Mikromasch AFM Spitzen und Kalibriergitter sind für die meisten AFM Typen geeignet. Kontaktieren Sie uns um sich zu vergewissern, ob sie sich für Ihr AFM eignen. 

 

 

 

Anwendung

AFM Messspitzen und Kalibrierproben

 

 

Spezifikation

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Kalibrierproben

AFM Kalibrierproben

 

- Porous Aluminium

- TGX (laterale Kalibrations)

- TGG (dreieckige Strukturen für laterale Kalibration und Spitzencharakterisierung)

- TGZ (Stufen 20 nm bis 1500 nm)

- TGF (trapezoidale Stufen zur Kalibrierung von Flankenkenwinkeln)

- HOPG (Graphit)

 

 

Anwendung

Kalibrieren von AFM und STM

Ueberprüfen der Spitzenschärfe und Geometrie

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Kontakt
Schaefer South-East Europe Piazza Merlin 11
I-45100 Rovigo
Telefon + 39 - 0425 - 46 02 18
Telefax + 39 - 0425 - 27 22 8
italia@schaefer-tec.com
www.schaefer-tec.it

Weitere Informationen

Links
- Webseite MikroMasch

 

 

 Downloads
 

 

Mail an Schaefer