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RHK Technology

A: RHK UHV 7500 mit zusätzlichen Oberflächenanalyse-Möglichkeiten und Erfassung optischer Daten
B: UHV AFM/STM/REM
C: REM-Aufnahme der STM Spitze über einem Gold-Gitter
D: Manipulation von Nanotubes
E: Messspitze über einem Schaltkreis
F: Pan-Style LT STM
G: ATM 300/350
H: Universelles SPM-Steuersystem
I: R9
J: PLLPro-Steuerung für NC-AFM

RHK ist seit über 25 Jahren führender Hersteller von Oberflächenanalysegeräten wie:

  

- PanScan Cryogen-free LT-STM

- PanScan LT SPM kit

- UHV VT AFM/STM

- UHV LT QuadraProbe(TM)

- AFM/STM/SEM

- Nano-Optische/naop-Spektroskopie SPM

- Universelle SPM Steuerelektroniken

 

 

Sehen Sie hier das Webinar zur R9 Steuerelektronik.

 

 

Die folgende Liste beschreibt die Bilder rechts:

 

UHV VT AFM/STM  (Abb.A)

Vakuum STM oder AFM/STM, Raumtemperatur oder Temperaturvariation,

UHV-Systeme inklusive Probenpräparation und weiteren Analysemethoden,

Optionen für variables Magnetfeld und für optischen Zugang

 

 

UHV AFM/STM/ REM (Abb.B und Abb.C)

Navigation der SPM-Spitze unter Beobachtung mit einem Raster-Elektronenmikroskop

 

 

UHV LT QuadraProbe™ (Abb.D und Abb.E)

Bis zu 4 unabhängige Messspitzen mit atomarer Auflösung, Probe und Spitze kühlbar auf 10K, REM zur Navigation der Messspitzen

 

 

Pan-Style LT STM / TF-AFM-Kit (Abb.F)

Scankopf für Tieftemperatureinsatz bis 300 mK, STM oder optional Stimmgabel-AFM, integrierter x/y-Offset

 

Pan-Scan Freedom-LT System

Komplettsystem für STM oder AFM/STM im Temperaturbereich 15K-400K mit closed-cycle-Kühlung: keine Kühlmittel-Kosten und unterbrechungsfreie Messung; atomare Auflösung, geringe Drift, gute STS. Weitere Informationen siehe:
http://rhk-tech.com/products/scanning-probe-microscopes/panscanfreedomlt/

 

 

 

ATM 300/350 (Abb.G)

STM oder AFM/STM zum Einsatz an Luft, für kleine Scanweiten und höchste Auflösung, vorbereitet für Upgrade auf UHV

 

 

Universelle SPM-Steuersysteme (Abb.H und I) 

Elektronik und Software für SPM-Scanköpfe unterschiedlicher Hersteller oder aus Eigenbau; neuestes Modell R9 bietet IHDL™ mit „drag and drop“- Zusammenstellung der gewünschten Hardware-Konfiguration.

 

 

PLLPro-Steuerung für NC-AFM (Abb.J)

Vollständig digitale Elektronik und Software zur Unterstützung aller AFM-Modi;

Neueste Version PLLPro 2 ™ schließt Kelvin Probe Microscopy ein.

 

 

▪ Aufrüstung bestehender Systeme

Das modulare Konzept erlaubt einfache und kostengünstige Erweiterung der RHK-Systeme:

Von STM auf AFM/STM, von RT auf VT, von externer auf interne Schwingungsdämpfung, von manuellem PPC100 auf digitalen PPC200, von älterer Steuersystem-Hardware und Software auf R9.

 

 

 

Anwendung

 

UHV STM und AFM bei Raumtemperatur oder variabler Temperatur bis 10K (Probe und Spitze) bzw. bis 1500K. Variables Magnetfeld. Optischer Zugang.  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Kontakt
Schaefer South-East Europe Piazza Merlin 11
I-45100 Rovigo
Telefon + 39 - 0425 - 46 02 18
Telefax + 39 - 0425 - 27 22 8
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www.schaefer-tec.it

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