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AFM Spitzen

NaDia Probe, aus Diamant
Box mit NaDia Cantilever

Mikromasch AFM Spitzen und Kalibrierstrukturen

 

Sind geeignet für praktisch alle AFM typen (für Nanosurf AFM empfehlen wir jedoch AppNano AFM Spitzen mit den Positionierungsstrukturen für den "alignment chip").

Für weitere Informationen zu den Mikromasch produkten klicken Sie bitte hier

  

 

 

ADVANCED DIAMOND TECHNOLOGIES

 

Die neuen NaDia Spitzen bestehen zu 100% aus Diamant und weisen daher eine extrem lange Lebensdauer auf.

 

Eine Uebersicht der erhältlichen Spitzen finden Sie hier.

 

Weitere Informationen unter www.thindiamond.com

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

AppNano Cantilever

AppNano Cantilever

(Applied NanoStructures Inc.)

 

Für die Nanosurf AFM (easyScan, easyScan2, Mobile S und easyScan2 FlexAFM) werden folgende AppNano AFM Spitzen empfohlen. 

 

- ACLA-10 (10 Stück) oder ACLA-20 (20 Stück) für den dynamischen Modus

 

- SICONA-10 oder SICONA-20 für den "static mode" (Kontakt Modus) 

 

AppNano - AFM Messpitzen sind auch vormontiert zur direkten Benutzung mit AFM - Systemen der Hersteller Park Systems und Ambios/Quesant erhältlich.

 

Weitere Cantilever von AppNano finden Sie auf der AppNano Webseite.

 

 

Sehen Sie hier eine Pressenotiz in der Zeitschrift Imaging & Microscopy.  

 

 

Anwendung

AFM Messspitzen, AFM Cantilever, AFM Kalibriergitter, AFM Kalibrierstrukturen

 

 

Spezifikation

Typ

Federkonstante

Resonanzfrequenz

 Entspricht

 

 

 

 

 

ACLA

ca. 45 N/m

ca. 190 kHz

PPP-NCLR

SICONA

ca. 0.2 N/m

ca. 12 kHz

PPP-CONTR

  

Kontakt
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