DeEnFr ProdukteNewsSchaefer GroupAusstellungenStellenangeboteKontakt

Roentgenanalytik Elementanalyse

EAGLE III
NanoMaster (Vakuumkammer)
Schichtdicken auf Leiterplatten Messen
XRF Spektrum

Elementanalyse mittels Röntgenfluoreszenz

 

Innovative Mikro-XRF-Systeme für die zerstörungsfreie Materialanalyse, Schichtdickenmessung sowie RoHS/WEEE Analyse.

Die Analysegeräte werden durch Roenalytic in Deutschland hergestellt und kombinieren ein breites Elementespektrum mit hoher lateraler Auflösung (Strahldurchmesser bis ca. 20 Mikrometer) sowie tiefen Nachweisgrenzen. Die Geräte sind mit einer Kammer für Messungen unter Vakuum oder definierter Gasathmosphäre ausgerüstet.  

 

 

Geräte:

NanoMaster

EAGLE III µ-Probe

 

 

Anwendungsbeispiel:

- Forensic Applications 

 

 

Anwendung

- Quantitative Materialanalyse

- Röntgenanalyse

- Röntgenanalytik

- Röntgenfluoreszenz

- Mikroanalyse

- Goldanalyse

- Edelmetallanalyse

- Leiterplatten

- Qualitätskontrolle

- NDT

- RoHS

- WEEE

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Kontakt
Schaefer-Tec AG
Badimatte 21
Postfach 431
3422 Kirchberg, Schweiz
Telefon + 41 - 34 - 423 70 70
Telefax + 41 - 34 - 423 70 75
ch@schaefer-tec.com
www.schaefer-tec.com

Weitere Informationen

Links
- Website Roentgenanalytic


Downloads

 

 

Mail an Schaefer