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NEU: Preisgünstiges Multi-Mode AFM mit OPEN DESIGN

TT-AFM mit den Modi kontakt, dynamisch, Phasenmodus und Lateralkraft sowie offener LabView Software und integrierter Videokamera für unter 25'000.- Euro!

Rastersondenmikroskopie 

- Park Systems
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- AFM Workshop (TT-AFM)

- AFM Cantilever
- MikroMasch

- nanoAnalytics QFM-Modul
- TableStable
- Zubehör
- SPIP 

3D-Profilometer 

- Sensofar
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- PhaseView
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- Mountains Software

 

 

Röntgentomografie 

- XRT

 

 

 

 

 

 

Elektronenmikroskopie 

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- MeX 

LEED/AES Spektrometrie 

- OCI

 

Nanofaser Herstellung 

- ELMARCO

 

Tribologie - Nanoindentation 

- CETR 

 

XRF / Schichtdickenmessung

- Roentgenanalytic Schichtdicke

- Roentgenanalytic Elementanalyse
- Sigma QCM

 

 

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- NanoSight

- Ambivalue (Mikrometer - Millimeter)

- Matter (Aerosol)
- Californiameasurements (Impaktor) 

 

Messtechnik - Magnet - Vakuum

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