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Tribologie - Nanoindentation
XRF / Schichtdickenmessung
Nanopartikel
Messtechnik - Magnet- Vakuum

NEU: Preisgünstiges Multi-Mode AFM mit OPEN DESIGN

TT-AFM mit den Modi kontakt, dynamisch, Phasenmodus und Lateralkraft sowie offener LabView Software und integrierter Videokamera für unter 25'000.- Euro!

Rastersondenmikroskopie 

- RHK

- AFM Workshop (TT-AFM)

- AFM Cantilever (AppNano)
- MikroMasch

- nanoAnalytics QFM-Modul
- TableStable
- Zubehör
- SPIP 

3D-Profilometer 

- gbs
- PhaseView
- AEP
- Mountains Software

 

 

LEED/AES Spektrometrie 

- OCI

 

 

 

 

 

Nanofaser Herstellung 

- ELMARCO 

 

 

 

 

Tribologie - Nanoindentation 

- CETR 

- Alemnis (in-situ Indenter)

 

XRF / Schichtdickenmessung

- Roenalytic Schichtdicke

- Roenalytic Elementanalyse
- Sigma QCM

 

 

 

 

 

Nanopartikel

- Matter
- Californiameasurements 

Messtechnik - Magnet - Vakuum

- Sigma

- Metrolab

- Picowatt

- VACSEAL
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